Diseño o integración de sistemas

21. Espectrofotómetro de un solo haz. Prototipo de versión comercial
Elyptica, Ensenada, B.C.. 2001-2002.
Descripción: Instrumento para el análisis clínico, con monocromador de 20cm, f/8, Czenry-Turner. Carrusel de 40 celdas, donde se incluye una para campo obscuro, control de temperatura y referencias para reactivos. Una PC posiciona la longitud de onda adecuada para el análisis seleccionado, normaliza las lecturas y hace los cálculos para concentración, transmisión, absorción, reacciones cinéticas (a temperatura controlada). Genera una base de datos.
R. Machorro y E. Mitrani

20. Sistema de adquisición de espectros multicanal. CCMC-UNAM,
En funciones y en desarrollo constante, octubre 2001.
Descripción: Conacyt apoya con proyecto G36531-E, duración de tres años, incia en 2003. Responsable R. Machorro. Usa fibras ópticas en arreglo bidimensional en un extremo. En el otro se arreglan de manera lineal. En el primero se forma la imagen del objeto analizado, en el segundo se usa como rendija de entrada en un monocromador. La salida del monicromador muestra un conjunto de espectros, cada uno corresponde a un pundo o región de la imagen estudiada. Los espectros se registran en un ICCD, con obturación de 2 ns 0 más. Esto sirve para el análisis de espectros del plasma producidos por ablación láser. Tambien se ha usado para la adquisición de espectros emitido por muestras fotoluminiscentes, al iluminarse con pulso del laser de excímero. Ver avances en el sitio http://optica.ccmc.unam.mx/espectr/ReporteTec1.html
Participantes: J. Bohigas1, J. Camacho2, E. Luna1, R. Machorro2, Eduardo Pérez3, S. Vázquez4, S. Zazueta1 En orden alfabético.
1IA-UNAM ,2CCMC-UNAM, 3FCFM-UANL*, 4INAOE

19. Automatización de la espectroscopía por desorción térmica (TDS).
CCMC-UNAM, En proceso, 1998
Descripción: Integración del espectrometro de masas y calefactor-controlador térmico, para el estudio de la desorción térmica de materiales, dentro de la cámara de análisis del sistema PLD. Incluye el programa de control y adquisición de datos, por medio de una tarjeta INAD.
R. Machorro, E.C. Sámano y G. Soto.

18. Reflectómetro de uso oftálmico. Prototipo de versión comercial.
Elyptica, Ensenada, B.C.. 1997.
Derivación del espectrofotómetro. Diseño de una cabeza, que permite colocar una lente oftálmica, salida del proceso de despósito de capas delgas, y medir su reflectancia y transmitancia, sin preparación especial. Midel el espectro de 340 a 900 nm. Programa de control y captura, para windows.
Participantes: R. Machorro y E. Mitrani

17. Monitoreo del proceso de fabricación de pastillas plásticas.
Descripción: Prototipo de versión comercial. Elyptica, Ensenada, B.C.. 1997.
Supervisión de las tareas que se realizan en una planta química, durante el proceso de fabricación, a partir de polvos, pelets de plástico, que se emplean en inyección de plásticos. En cada estación se monitorea la temperatura, la posición de compuertas y tiempos de cada paso. Los datos se concentran en una microcomputadora, y se muestran en forma gráfica, guardando la historia de toda la planta. Programa de control y captura, para windows.
Participantes: E. Mitrani y R. Machorro

16. Prácticas del laboratorio de óptica,
UABC. Febrero a junio de 1998
Descripción: Arreglo experimental para la automatización en la toma de datos. Manual de prácticas y programas de control y procesamiento de datos. Platina giratoria, carro con desplazamiento lineal, sistema de adquisición y control.
Participantes: R. Machorro y Sukey Sosa (estudiante de física, UABC)
Actualización y puesta en internet, otoño 2002,
sitio: http://optica.ccmc.unam.mx/LabOpt/PracticOptUabc.html

15. Sistema de depósito de capas delgadas inhomogéneas,
IFUNAM, Lab. Ensenada, B.C. 1994.
Descripción: Sistema de depósito de capas delgadas inhomogeneas, al alto vacío, empleando mascarillas giratorias. Se emplea como fuentes de evaporación un cañón de electrones y un bote. Desarrollo de programa de control y adquisición, usando objetos.
Participantes: R. Machorro, F. Villa-Villa y J. Nieto.

14. Platina doble para la técnica de reflexión total atenuada (RTA).
IFUNAM, Lab. Ensenada, B.C. 1994.
Descripción: Controladas de manera independiente por una PC. Platinas comerciales, adaptadas. Desarrollo de programa de control y adquisición, usando objetos.
Participantes: R. Machorro, R. Castañeda.

13. Espectrofotómetro de un solo haz.
Versión comercial. Elyptica, Ensenada, B.C.. 1991-1993.
Descripción: Instrumento para el análisis clínico, con monocromador de 20cm, f/8, Czenry-Turner. Una celda de 10x10 mm, con la muestra problema y otra para la referencia. Una PC posiciona la longitud de onda adecuada para el análisis seleccionado, normaliza las lecturas y hace los cálculos para concentración, transmisión, absorción, reacciones cinéticas (a temperatura controlada). Genera una base de datos. Se vendieron hasta 2002 35 aparatos de este tipo.
Participantes: E. Mitrani y R. Machorro

12. Platina doble para la técnica de reflexión total atenuada (RTA).
IFUNAM, Lab Ensenada, B.C., Julio 1991.
Descripción: Controladas de manera independiente por una PC. Sistema hecho en casa totalmente.
Participantes: R. Machorro, L.E.Regalado J. Valenzuela

11. Programa computacional para el análisis de multicapas.
IFUNAM, Lab. Ensenada, B.C. 1990.
Descripción: Los materiales pueden ser de índice complejo y dispersivo, esto es dependiente de la longitud de onda. Incluye medios compuestos (Brugemann, Maxwell-Garnett, R. Barrera, Yamagushi, Bragg y Pippard). Resultado en forma gráfica de reflectancia, absorbancia, transmitancia, y su fase respectiva. Diagrama de admitancias.
Participantes: R. Machorro

10. Elipsómetro con analizador rotante.
IFUNAM, Lab Ensenada, B.C., Octubre 1991
Descripción: Tarjeta de enlace, programa de control y aquisición de datos.
Participantes: R. Machorro, J. Palomares (UABC), José Luis Heredia (UABC)

9. Automatización de un elipsómetro nulo.
IFUNAM, Lab Ensenada, B.C., Dic. 1989
Descripción: Búsqueda de los mínimos de intensidad, movimiento de polarizadores y adquisición de datos controlados por microcomputador.
Participantes: R. Machorro, R. Cardona (U.N. de Colombia) y J. Zúñiga (UABC)

8. Sistema de reflexión total atenuada.
IFUNAM, Lab Ensenada, B.C., Agosto 1989
Descripción: Incluye monocromador tipo Czerny-Turner, platina y adquisición de datos controladados por microcomputador.
Participantes: R. Machorro, J. Valenzuela y G. Soto

7. Reflectómetro absoluto.
CICESE, Ensenada, B.C. 1984
Descripción: Para la caracterización de materiales. Incluye monocromador tipo Czerny-Turner de alta resolución y repetibilidad, cabezal de detección y platina portamuestras. El sistema está completamente automatizado por medio de un microprocesador dedicado.
Participantes: R. Machorro y R. López B.

6. Automatización del sistema monitor de espesores.
National Physical Laboratory, 1982.
Descripción: Automatización del sistema monitor de espesores de películas delgadas. Se desarrolla con microcomputadora HP, la cual controla la toma de datos y toma de decisiones para suspender la evaporación
Participantes: R. Machorro y R. King

5. Automatización del sistema monitor de espesores.
CICESE, Ensenada, B.C. 1983
Descripción: Monitor de espesores de películas delgadas. Se desarrolla un sistema de microcomputadora, el cual controla la toma de datos, movimiento de monocromador y toma de decisiones para suspender la evaporación
Participantes: C. G. López y R. Machorro
Inconcluso.

4. Sistema monitor de espesores.
CICESE, Ensenada, B.C. 1980
Descripción: Sistema monitor de espesores de las películas delgadas al momento de depositarlas en la campana de alto vacío. Incluye sistema de iluminación, monocromador tipo Czerny-turner, y sistema de detección.
Participantes: R. Machorro

3. Interferómetro de haces múltiples.
CICESE, Ensenada, B.C. 1981
Descripción: Interferómetro de haces múltiples, tipo Tolansky, para la medición de espesores de capas delgadas. Se miden areas pequenas de la muestra, con lo que las distorciones del substrato influyen poco en la forma de las franjas. Se emplea tambien, con ciertas modificaciones, para la medicion de la birrefringencia de cristales de calcita.
Participantes: R. Herrera y R. Machorro

2. Interferómetro de desplazamiento lateral.
CICESE, Ensenada, B.C. 1979
Descripción: Interferómetro de desplazamiento lateral, aplicado a la prueba de sistemas ópticos. Emplea 4 juegos de rejillas de difracción holográficas, en juegos de 2 ortogonalmente distribuidas.
Participantes: R. Machorro y D. Tentori

1. Sistema probador tipo Ronchi.
CICESE, Ensenada, B.C. 1978
Descripción: Sistema probador tipo Ronchi, para la evaluación de sistemas de espejos y lentes, dentro y fuera de eje. Se incluye programa de evaluación y generación de franjas.
Participantes: R. Machorro