DIRECCIÓN DE TESISLicenciatura3 Dependencia: Tec. Regional de MexicaliEstudiante: Luis Enrique Castañeda Avila Medición de la reflectancia en muestras rugosas empleando un goniómetro ?-2?? Presentada en noviembre de 1994 2 Dependencia: UABC, Esc. Sup. de Ciencias Estudiante: Gustavo Pérez Elipsometría de Materiales Anisotrópicos Presentación: Abril 1990 1 Dependencia: Univ. Autónoma de de Baja California Estudiante: David Salazar Miranda Estudio de las propiedades ópticas de películas delgadas de MgF2 y ZnS Presentación: Junio 1985 Maestría4 Postgrado en Fìsica de Materiales, UNAM-CICESEEstudiante: Fis. Eduardo Pérez Tijerina Modelo para el análisis espectral del plasma de ablación láser Presentó: Septiembre de 2000 3 Dependencia: CICESE Estudiante: Fis. Julio César Borja Plasmones de superficie en sistemas de baja dimensionalidad Presentó: Diciembre 1992 2 Dependencia: CICESE Estudiante: Físico Sebastián Sánchez Estudio de minibrechas en las curvas de dispersión de películas delgadas metálicas corrugadas Presentación: Diciembre 1990 1 Dependencia: CICESE Estudiante: Raúl Herrera Becerra Método de simplex no lineal en la síntesis de multicapas. Presentación: Mayo 1985 Doctorado1 Dependencia: IFUNAM-CICESEEstudiante: M.C. Francisco Villa Villa Películas delgadas inhomogeneas: filtros de interferencia y absorción. Presentada en mayo de 1995 2 Dependencia: CICESE-UNAM Estudiante: M.C. Eduardo Pérez Tijerina Estudio espectral del plasma de ablación láser, Presentada el 26 Septiembre 2003 Tesis en proceso:ningunaSupervisión Posdoctoral1 Dr. Javier Camacho, CICESE, de abril 2003 a marzo 20052 Dr. Javier Salinas Luna, INAOE, de octubre de 2004 a septiembre de 2005 |